test pattern generation中文是什么意思

• 测试码模式生成
• 测试图案发生

• "test pattern"中文翻译    【电视】测试图。
• "generation"中文翻译    n. 1.代〔约30年〕，世代，时代；同时代的人。 2. ...
• "automatic test pattern generation" 中文翻译 :    atpg; 自动测试模式产生; 自动产生测试图案
• "generation automatic test pattern" 中文翻译 :    自动化测试模式产生
• "test pattern generation program" 中文翻译 :    测试码模式生成程序; 测试模式生成程序
• "test pattern generation system" 中文翻译 :    测试码模式生成系统
• "automatic test pattern generation (atpg)" 中文翻译 :    自动测试模式产生
• "automatic test pattern generation system" 中文翻译 :    自动测试码产生系统; 自动测试图形产生系统
• "pattern generation" 中文翻译 :    方向图的形成; 模式生成; 图形生成
• "test generation" 中文翻译 :    测试生成
• "algorithmic pattern generation system" 中文翻译 :    算法图形生成系统
• "laser pattern generation" 中文翻译 :    雷射图形产生器
• "maskless pattern generation" 中文翻译 :    无掩模图像生成
• "pattern-generation machine" 中文翻译 :    图形发生机
• "pattern test" 中文翻译 :    点图测验
• "test pattern" 中文翻译 :    【电视】测试图。
• "test-pattern" 中文翻译 :    试验模型
• "automatic test generation" 中文翻译 :    自动测试产生; 自动测试生成
• "automatic test generation (atg)" 中文翻译 :    自动测试产生
• "automatic test plan generation" 中文翻译 :    自动测试计划生成程序
• "automatic test program generation" 中文翻译 :    自动测试程序生成
• "critical path test generation" 中文翻译 :    临界通路测试产生法
• "early generation test" 中文翻译 :    早代测验
• "easy test generation" 中文翻译 :    容易产生测试
• "easy test generation circuit" 中文翻译 :    容易产生测试的电路

• The pseudorandom test pattern generation for bist
  基于内建自测试的伪随机测试向量生成方法
• Automatic test pattern generation for multi - clock digital system based on s amp; amp; cct
  基于安全充分捕获技术的多时钟数字系统测试矢量生成
• An automatic test pattern generation ( atpg ) algorithm for deliberately selected delay faults is presented to cope with the crosstalk - induced delay effects on longer paths
  由于电路中较长的通路具有较短的松弛时间，因此容易因为串扰问题产生时延故障。
• In this way , a simple and direct relation was build up between logical transitions and dynamic current , which makes possible iddt testing pattern generation on logical level
  该方法在电路逻辑跳变与电路动态电流之间建立了一种简单直观的关系，使得动态电流测试产生能够在逻辑级上得以实现。
• Based on the analysis and research on fan algorithm , an iddt test pattern generation algorithm for stuck - open faults is present . in the case of ignoring hazards , for the stuck - open faults in cmos circuits , the feasibility of transient current test generation based on fan algorithm is discussed
  本文采用启发式搜索的方法，基于对fan算法的分析，在不考虑冒险的情况下对于cmos电路中的开路故障，探讨了利用fan算法进行瞬态电流测试生成的可能性。